KITECH 생산기술 전문지

비전 기반 자동검사는 제조업 품질보증의 핵심 기술로 자리 잡고 있다. 포토카드, 트레이딩 카드, 고급 패키징과 같은 고해상도 인쇄매체는 외관 품질에 대해 무결점 수준의 기준이 요구되지만, HMLV 생산 특성상 디자인별 결함 데이터를 충분히 확보하기 어렵다. 또한 기존 이상 탐지 모델은 입력 해상도 축소로 5-20픽셀 수준의 미세 결함을 놓치기 쉽고, 오프셋 인쇄 과정에서 발생하는 색상·반사 편차가 실제 결함과 유사한 잔차를 만들어 검출을 어렵게 한다[1,2]. 본 기술은 원본 디자인 파일인 Digital Truth와 생산라인 촬영 이미지인 Captured Image를 비교하는 Digital-to-Real 참조 기반 검사 프레임워크를 제안한다. 색상 보정과 결함 검출을 두 단계로 분리함으로써, 정상 공정 변동은 보정하면서도 미세 결함 신호는 보존하도록 설계하였다.

키워드 주파수, 고해상도, 인쇄매체, 미세 결함