저자 : 이규흔

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  • KITECH 생산기술 전문지 > 지능화뿌리기술
  • Volume 2(3); 2025
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지능화뿌리기술 2025;2(3):95-100. Published online: Jul, 1, 2025

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산업용 X-ray CT를 활용한 내부 결함 시각화 및 정량화 기술

  • 이규흔*, †
이규흔
  • 이규흔
    * 한국생산기술연구원 울산뿌리기술지원센터 / 기술원 / leegh1@kitech.re.kr / 교신저자
초록

본 고에서는 산업용 X-ray 전산화 단층촬영(CT) 기술을 활용하여 제조 부품 내의 미세 결함을 비파괴적으로 시각화하고 정량 분석하는 기술에 대해 소개한다. X-ray CT는 고출력 X-ray 소스와 평면 검출기를 기반으로 내부 구조를 3차원으로 정밀 영상화할 수 있으며, 최근에는 인공지능 기반 자동 분석 기법과의 융합을 통해 활용성이 확대되고 있다. 본 기술은 주조품 내 수축공 및 기공 분석, 용접부의 내부 공극 평가, 반도체 소자의 결함 진단, 역설계를 위한 형상 복원, 문화재 보존 및 화재 감식 등 다양한 산업·비산업 분야에 적용되고 있다. 특히 CT 기반 분석은 품질 신뢰성 확보와 설계·공정 피드백에 효과적으로 기여하며, 향후 디지털 트윈 및 AI 기술과의 융합을 통해 제조 전주기 품질관리 플랫폼으로의 진화를 기대할 수 있다.

키워드 X-ray CT, 비파괴 검사, 주조 결함 분석, 3차원 시각화, 정량 분석, 구형도, 제조 품질

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